牛津仪器CMI900 无损电镀膜厚测量仪，测量金、银 钯 銠 镍 铜 锡 等贵金属多镀层膜厚测量，快速 无损，业内广受好评，客户应用广泛在 五金 连接器 PCB LED支架等行业以形成行业测量的标准。欢迎广大五金连接器客户联系 测量量样品 洽谈往来 本公司经营多年工程师经验丰富，商业合作个方式灵活。同时经营原装OXFORD X光射线管 ETP探头等配件，以及ROHS检测设备国产ROHS分析检测仪，台式元素分析仪。
仪器介绍
CMI 900 系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层 厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析.基于WindowsXP
中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包，实现了对CMI900主机的全面自动化控制，
PCB 五金 LED 连接器 表面处理等行业
技术参数：
CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都于全世界的测厚行业
A CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层
（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定多5层、15 种元素。
B ：度于世界，到0。025um (相对与标准片)
C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求 ；
如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、较大值、小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
E ：可测量任一测量点，小可达0.025 x 0.051毫米
牛津仪器CMI900电镀膜厚测量仪
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供应CMI900膜厚仪镀层测厚仪
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深圳市旭升发机电设备有限公司
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