・ 交流/直流共用。微电阻测试范围0.1µΩ~2000Ω,测试速度2秒/8通道。
・ 可以与温度循环试验箱一起构成系统,统一管理。
・ 适合于BGA/CSP为代表的高密度封装部件的焊接接合评价和多层基板的导通检查,以及连接器或接插件的接触电阻的多点连续测定。
・ 测试通道,醉倒256通道(32通道/基板、8基板构成)。还有微型的MLR22mini。
主要技术规格:
测定电阻值范围及分辨率
交流测定
直流测定
1)2.000kΩ(分辨率1Ω)
2)200.0Ω(分辨率100mΩ)
3)20.00Ω(分辨率10mΩ)
4)2.000Ω(分辨率1mΩ)
5)200.0mΩ(分辨率100µΩ)
6)20.00mΩ(分辨率10µΩ)
200.00kΩ
20.000kΩ
2.0000kΩ
200.00Ω
20.000Ω
测定频率
2kHz
测定电压
20mV(rms)以下
测定点数
32通道/基板(最多256通道)