产品特点:
本设备广泛用于航空航天,单位、电子电工、仪器仪表、材料设备、零部配件等模拟试件在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安全性性试验、产品筛选等,同时可通过此实验,进行产品的质量控制。
箱体内部
满足执行标准:
BS EN 2591-323-1998 电气和光学连接元件,试验方法:温度冲击
GJB 150.5-1986 军用设备环境试验方法 温度冲击试验
GJB 595.4-1988 炮兵光学仪器环境试验方法 温度冲击试验
GJB 797.4-1990 地雷爆破器材环境试验方法 温度冲击试验
HB 5830.10-1984 机载设备环境条件及试验方法 温度冲击试验
QJ 1177.5-1987 地空、舰空导弹武器系统环境试验方法 温度冲击试验
QJ 1184.3-1987 海防导弹环境规范 弹上设备温度冲击试验
SJ 20115.3-1992机载雷达环境条件及试验方法 温度冲击试验
WJ 1743.4-1987 1301灭火瓶环境试验 温度冲击试验等试验标准