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iEDX-150T 采用非真空样品腔；
用于金属电镀镀层分析；
可同时分析镀层中的合金成分比列。
技术指标：
多镀层，1～6层
测试精度：0.01 um
多次测量重复性误差<0.1％
元素分析范围从铝(Al)到铀(U)
测量时间：10-60秒
Si-PIN探测器，能量分辨率为149电子伏特
微焦X射线管50KV/1mA，钨靶，
焦斑尺寸 75um, 寿命大于3万小时
7个准直器及6个滤光片自动切换
XYZ三维移动平台，较大荷载为5公斤
高清CCD摄像头，监控位置
多变量非线性去卷积曲线拟合
高性能FP/MLSQ分析
平台移动范围 300(X)x300(Y)x25 (Z)mm
图谱界面：
软件支持无标样分析
超大分析平台和样品腔
集成了镀层界面和合金成分分析界面
采用先进的多种光谱拟合分析处理技术
分析精度可达到0.01um
公司网址：www.sense.cc
