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TMJ-9709三箱式冷热冲击试验箱说明：
此种试验的目的在决定与材料对瞬间极高温或极低温的抵抗力，这种情况也类似不连续地处于低温或高温中的情形，冷热冲击能使各种物品在短时间内完成测试。在热振中产生的化学变化或物理伤害是由热胀冷缩改变或其他物理性质的改变而引起，采用TST系统，各类产品才能获得完全的信赖。热振的效果包括成品裂开或破屑及位移等所引起电学变化。TST系列的全数位自动控制，将使您操作简易得心应手。
TMJ-9709三箱式冷热冲击试验箱机器结构与材质：
1.结 构：分为高温区、低温区、测试区。
2.内部尺寸：50cm(W)×40cm(H)×40cm(D)
3.外部尺寸：根椐实际设计定
4.内外箱材质：SUS＃304耐热耐寒不锈钢板，一级光面板。
5.保温材质：高密度玻璃棉及高强度PU发泡绝缘材料。
6.防汗机件：以系统K型管之热能作防汗处理。
7.附属设备：
a.耐寒耐热之高张性迫紧（packing），可耐温400℃及低温-200℃
b.高低温自动转换设备乙套
c.附可调式话动盘二只
技术参数:
1.产品型号：TMJ-9709
2.置物篮尺寸：测试区500×500×300 (W×D×H)mm
3.结构：分为高温区，低温区，测试区
4.测试规格：2 ZONE测试 :100℃～-40℃
5.解析精度：0.1℃
6.控制精度：±2℃
7.高温区升温时间：自常温至 150℃ ，≦40分钟
8.低温区降温时间：自常温至–60℃ ，≦60分钟
9.测试区温度恢复时间：≦5分钟
10.温度改变时间：≦30秒
11.选购配备：制YOKOGAWA 1 PEN 记录器，可记录曲线，打印数值与时间 。
12.选购配备：USB记录装置
13.选购配备：可预留液态氮控制阀（客户自行提供液氮），供快速降温使
温度交变试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，都会用到，是各领域对产品测试的必不可少的一项测试箱。
