泰立仪器代理美国GE工业无损检测。
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用于大型部件
① NQP…型
用于直接接触法的聚焦直探头,2 M H Z,晶片直径3 4 m m,5 0 m m,或75mm,深度越深处,焦点直径越小,
Lemo1接头。尤其适用于各个方向的相邻缺陷。
② WQP…型
聚焦斜探头, 晶片直径3 4 m m ,50mm,或75mm,深度越深处,焦点直径越小,Lemo1接头。
③ SEB…G型
双晶探头,1 MHz 或 2 MHz, 大晶片,深度聚焦,Lemo 00接头。
④ GRST…型
相控阵探头,声束焦点和角度可变,可用于自动检测系统。