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GUT-6000A数位IC测试器
GUT-6000A数位IC测试器特性：
Loop 测试
自动搜寻 IC 编号功能
开机自我侦测诊断功能
过载保护功能
可量测之 IC 种类超过 1800 种
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
最大可测 Pin 数 : 28 Pin
GUT-6000A数位IC测试器规格：
规 格
测试范围
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
55 及 75 系列 TTL
量测种类
约 1800 种
测试电压
5V DC
测试时间
高测试速度，平均 0.8 秒可完成一个 IC
使用电源
交流 110V/220V +10%, 50/60Hz
附件
电源线 x 1, 操作手册 x 1
尺寸及重量
335(宽) x 105(高) x 300(长) mm, 约 1.5 公斤
固纬IC测试仪选型表
机 种
主要功能或用途
GUT - 6000A
数位IC测试器
GUT - 6600
掌上型数位IC测试器
GUT - 6001
类比IC测试器
