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采用平场消色差光学系统和落射式柯拉照明系统，同时在落射照明系统中设计
防反射结构，有效防止反射光干扰成像光线，从而使成像更清晰、视场衬度更好。
产品特点：
1.提供稳定的操作机构,使成像更清晰,操作更简便。
2.显微镜镜体采用全新的人机工程学设计，结构匀称，实现镜体扩展积木化。
3.工作台、光强与粗微调的低位操作，提高了使用的舒适性。
4.广泛应用于各类半导体硅晶片检测、材料科学研究、地质矿物分析及精密工程等学科领域。
技术参数：
光学系统 有限远色差校正光学系统
观察筒 铰链式双目，30°倾斜，360°旋转，瞳距调节范围：54-75mm，双边±5屈光度可调；
铰链式三目，固定式分光比，双目:三目=80%:20%
物镜 长工作距平场消色差金相物镜5X、10X、20X、50X、100X
目镜 PL10X高眼点平场目镜，线视场 18mm
调焦机构 粗微调同轴，带机械上限位和松紧调节装置, 粗调行程28mm，微调精度0.002mm
转换器 内定位四孔转换器
内定位五孔转换器
载物台 双层机械移动平台,附设180X145mm平板平台, 移动范围：76mmX50mm
照明系统 反射式柯拉照明，自适应宽电压90V-24V，6V/30W卤素灯，光强连续可调,带可变孔径光阑与视场光阑,视场光阑中心可调
摄像装置 0.35X/0.5X/1.0X C型摄像接筒
摄影装置 摄影接筒（带PK卡口），3.2X摄影目镜
其他可选功能 简易偏光
6V30W透射照明系统
可选配：
拍照 存储 测量功能的工业微型处理器相机
具体功能：
● 自动寻边测量功能
可根据取点范围，自动识别线、圆、弧，具有极强的去毛边的功能，并极大地提高线距、线夹角、圆半径、弧半径测量精度，避免人工误差。
● 几何测量功能
线、圆、矩形、多边形、角度等测量工具，对图像上两点距离、线段长度、线距、圆半径直径、面积、角度、矩形、折线、多边形、点线、平行线距的等几何参数进行测量。
