名片曝光使用说明

步骤1:创建名片

微信扫描名片二维码,进入虎易名片小程序,使用微信授权登录并创建您的名片。

步骤2:投放名片

创建名片成功后,将投放名片至该产品“同类优质商家”栏目下,即开启名片曝光服务,服务费用为:1虎币/天。(虎币充值比率:1虎币=1.00人民币)

关于曝光服务

名片曝光只限于使用免费模板的企业产品详细页下,因此当企业使用收费模板时,曝光服务将自动失效,并停止扣除服务费。

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北京飞凯曼科技公司提供薄膜应力测试仪。薄膜应力测试仪,又名薄膜残余应力测试仪或薄膜应力仪,是专门用于测试和研究薄膜材料和薄膜制备工艺的必不可少的工具。 薄膜中应力的大小和分布对薄膜的结构和性质有重要的影响, 可导致薄膜的光、电、磁、机械性能改变. 例如, 薄膜中的应力是导致膜开裂或与基体剥离的主要因素, 薄膜中存在的残余应力很多情况下影响MEMS 器件结构的特性, 甚至严重劣化器件的性能, 薄膜的内应力对薄膜电子器件和薄膜传感器的性能有很大的影响.因此, 薄膜应力研究在薄膜基础理论和应用研究中起到重要的作用, 薄膜应力的测量备受关注。再例如在硬质薄膜领域,金属氮化物、氧化物、碳化物等硬质薄膜因具有优越的耐磨、耐腐蚀等特性,被广泛应用于金属材料的防护.硬质薄膜的主要制备方法包括物理气相沉积和化学气相沉积技术.研究发现,沉积态硬质薄膜中存在较大的残余应力,而且沿层深分布不均匀;该残余应力对硬质薄膜一基体系统的性能影响很大-lJ_地测量硬质薄膜的残余应力,系统研究它与沉积工艺的关系,对优化硬质薄膜基体系统的性能具有重要的意义. 本公司提供的薄膜应力测试仪基于经典基片弯曲法Stoney公式测量原理,采用先进控制技术和傻瓜化的操作,使得FST150薄膜应力测量仪特别适合于要求快速测量常规薄膜残余应力。 根据我们科研工作者长期的扎实的理论研究和实际工艺探索,研制的一套适用于各种薄膜应力测试的装置。近年来,经过国内知名院校和科研单位的实际使用和验证,该仪器具有良好的重复性和准确性,是一款广泛应用于各领域薄膜制备和材料研究的高性价比的仪器。 产品功能和特点: 自动采集分析数据功能; 自动扫查样品边缘,定位样品中心; 自动计算出曲率半径值和薄膜应力值; 对原始表面不平直的基片表面的薄膜,可采取原位测量的方式,计算薄膜应力值。 技术参数: 1.原理:曲率法Stoney公式 2.薄膜应力测量范围:5MPa到50GPa; 3.曲率半径测试范围:0.3-20m 4.曲率半径测试误差:﹤±1% 5.薄膜应力计算误差:﹤±2% 6.测试平台行程:X方向100mm,Y方向50mm 7.样品尺寸:长方形样品 8.样品定位:自动定位原点 9.样品校正:可计算校正原始表面不平直影响 10.主要功能:自动测量采集计算曲率半径和薄膜应力 11.控制:独立PC及控制软件 12.仪器尺寸:1500x380x360mm 详细信息请咨询我们。
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